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CASE

    碳化硅中主要杂质元素的存在形式,Ceramics International ...

    2021年11月17日  碳化硅中主要杂质元素的存在形式. Ceramics International ( IF 5.2 ) Pub Date : 2021-09-10 , DOI: 10.1016/j.ceramint.2021.09.095. Dong Feng 1, 2 , Zhaobo Qin 1,

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    在使用碳化硅制品中有杂质出现,该怎样去除? - 百度知道

    2019年4月16日  1. 评论. 分享. 举报. 更多回答(3) 在使用碳化硅制品中有杂质出现,该怎样去除? 有两种方法:化学除铁法和物理触铁法,下面一款来看一下具体过程。 化学除

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    碳化硅杂质原子及电离能-海飞乐技术有限公司

    作者:海飞乐技术 时间:2018-06-29 15:00. 杂质碳化硅中的杂质原子一般以替换硅或碳原子的替位方式存在。. 其中,氮、磷等原子一般只替代碳,铝原子只替代硅,而硼原子则既可替代硅也可替代碳。. 但是,由于立方结构

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    碳化硅_百度百科

    2023年5月4日  碳化硅,是一种无机物,化学式为SiC,是用石英砂、石油焦(或煤焦)、木屑(生产绿色碳化硅时需要加食盐)等原料通过电阻炉高温冶炼而成。 碳化硅是一种半

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    碳化硅(SIC)单晶生长用高纯碳化硅(SIC)粉体的详解 ...

    2023年10月27日  研究结果表明通过控制碳粉和硅粉中的杂质含量可以将 B、Fe、Al、Cu、P 等杂质控制在 1 × 10 - 6以下,合成的高纯 SiC 粉体纯度高达 99. 999% 。 在众多杂

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    半导体碳化硅(SIC)深入认知的详解; - 知乎

    2024年1月19日  半导体碳化硅 (SiC) 是一种由硅 (Si) 和碳 (C) 组成的半导体化合物,属于宽带隙 (WBG) 材料系列。 它的物理结合力非常强,使半导体具有很高的机械、化学和热稳

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    碳化硅器件制造那些事儿(二)-电子工程专辑

    2022年11月30日  碳化硅工艺制造过程中使用的典型高能离子注入设备主要由离子源、等离子体、吸出组件、分析磁体、离子束、加速管、工艺腔和扫描盘组成,如图2所示。 图2

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    碳化硅中金属杂质的第一性原理研究:结构、磁性和电子特性 ...

    2022年7月19日  碳化硅中金属杂质的第一性原理研究:结构、磁性和电子特性. Frontiers in Materials ( IF 3.2 ) Pub Date : 2022-07-19 , DOI: 10.3389/fmats.2022.956675. Lin Zhang,

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    4H碳化硅的杂质和缺陷,Applied Physics Letters - X-MOL

    2023年5月2日  4H碳化硅(4H-SiC)的广泛使用指日可待,因为基于4H-SiC的大功率电子产品越来越多地被制造出来,以推动世界的低碳发展。 还通过仔细研究 4H-SiC 作为半导

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    碳化硅如何导电? - 知乎

    2022年4月18日  碳化硅作为一种常见的工业磨料,严格讲是一种半导体材料,其电学性质属杂质导电性,电阻率在10^ˉ2~10^12Ω㎝之间。 其导电性能随碳化硅晶体中引入杂质的种类和数量的不同而变化,碳化硅根据其含

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    碳化硅的制备及应用最新研究进展 - 汉斯出版社

    该法生产的碳化硅粉体不够细,杂质多,能耗低,效率低,但由于操作工艺简单,仍被广泛用于碳化硅的制备。 以下是几种常见的固相法。 1) 机械粉碎法:将粉体颗粒状的碳化硅在外力作用下将他研磨煅烧一系列操作后得到超细粉体,该工艺及设备简单,成本也低,但效率高,缺点就是反应中易 ...

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    碳化硅(SIC)单晶生长用高纯碳化硅(SIC)粉体的详解 ...

    2023年10月27日  生长 SiC 单晶用的 SiC 粉体纯度要求很高,其中杂质含量应至少低于 0. 001% 。. 在众多 SiC 粉合成方法中,气相法通过控制气源中的杂质含量可以获得纯度较高的 SiC 粉体; 液相法中只有溶胶-凝胶法可以合成纯度满足单晶生长需要的 SiC 粉体; 固相法中的

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    碳化硅材料:特性、应用与未来前景探析 - 知乎

    2023年8月23日  晶界缺陷与杂质: 挑战: 在碳化硅制备过程中,晶界缺陷和杂质可能会影响材料的性能和稳定性。这些缺陷和杂质可能导致电子和热传导性能下降,从而影响应用效果。解决方案: 通过优化制备工艺和材料处理步骤,可以减少晶界缺陷和杂质的形成。

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    T/CASA 009《半绝缘 SiC 材料中痕量杂质浓 度及分布的二 ...

    2019年10月10日  出口碳化硅分析方法 碳化硅含量的测定 2.3 术语及定义 GB/T 14264、GB/T 22461 界定的以及下列术语和定义适用本文件。 2.4 方法原理 该部分内容对应《标准》的第 4 章内容,详细阐述了二次离子质谱仪检测半导体碳化硅 材料中的痕量杂质铝、钒浓度

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    黑碳化硅_百度百科

    纯碳化硅是无色透明的晶体。工业碳化硅因所含杂质的种类和含量不同,而呈浅黄、绿、蓝乃至黑色,透明度随其纯度不同而异。碳化硅晶体 结构分为六方或菱面体的 α-SiC和立方体的β-SiC(称 立方碳化硅)。α-SiC由于其晶体结构中碳和硅原子的堆垛序列不同而构成许多不同变体,已发现70余种。

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    PVT 法生长 4H-SiC 晶体及多型夹杂缺陷研究进展-icspec

    2022年12月1日  1 PVT法生长碳化硅晶体 1955年,Lely等首次提出了一种用于制备碳化硅晶体的升华技术,自此开启了碳化硅材料制备及器件制造的新局面。 遗憾的是,由于该方法所得晶体尺寸有限、形状不规则且容易包含多种晶型,难以应用于实际器件制造中。

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    碳化硅中杂质元素氮的测定 - 百度学术

    碳化硅中杂质元素氮的测定. 碳化硅是一种重要的化工原料,应用广泛,氮是其半绝缘性能的直接判定依据,目前尚无相关检测标准.碳化硅中的氮在浓硫酸和混合催化剂的作用下,经氧化还原反应全部转化为铵态氮.消解后的溶液,碱化蒸馏出的氨被硼酸吸收.用标准盐酸 ...

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    半导体届“小红人”——碳化硅 - 知乎

    2019年10月9日  半导体届“小红人”——碳化硅. 众所周知,所谓半导体材料是具有半导体性能,能够用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。. 常见的半导体材料分为元素半导体和化合物半导体两大类。. 元素半导体:单一元素组成的半导体。. 例如第一代半导体材料,锗 ...

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    碳化硅器件制造那些事儿(二)-电子工程专辑

    2022年11月30日  但碳化硅中杂质原子的扩散常数极低,因此用扩散工艺实现选择性掺杂是不现实的,如图 1所示。另一方面,离子注入的温度条件相对扩散工艺较低,同时可形成更加灵活和准确的掺杂分布。图1 碳化硅材料中,扩散和离子注入掺杂技术对比 二

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    碳化硅,什么是碳化硅,主要成份作用与用途有哪些等-涨知识

    2017年11月7日  碳化硅是由硅与碳元素以共价键结合的非金属碳化物,硬度仅次于金刚石和碳化硼。化学式为SiC。无色晶体,外表氧化或含杂质时呈蓝黑色。具有金刚石结构的碳化硅变体俗称金刚砂。金刚砂的硬度挨近金刚石,热安稳性好,2127℃时由β-碳化硅转变成α-碳化硅,α-碳化硅在2400℃依然安稳。

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    国家标准-碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子 ...

    2019年11月20日  目前许多生产和使用碳化硅材料的企业都对碳化硅中杂质含量测试提出了需求,但是尚无相关测试方法的标准或可借鉴的测试方法。 将本标准中直接引用到的文件GB/T 14264《半导体材料术语》、GB/T 22461《表面化学分析词汇》列入了第二章。 2.3术

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    深度去除高纯碳化硅粉体中杂质元素的方法 - 百度学术

    深度去除高纯碳化硅粉体中杂质元素的方法[发明专利] 10 人查看 热门文献 钛学术 钛学术 (全网免费下载) 钛学术 (全网免费下载) 通过文献互助平台发起求助,成功后即可免费获取论文全文 ...

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    碳化硅晶片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

    2023年6月12日  当碳化硅器件工艺线与硅器件工艺线共用时,为 避免金属污染对硅器件性能造成不利影响,碳化硅产业链不同阶段产品(如衬底、外延、芯片、器件) 表面的痕量杂质元素浓度表征至关重要。电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)是检测材料痕量杂质元素

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    国内外碳化硅陶瓷材料研究与应用进展 CERADIR 先进陶瓷在线

    2022年4月24日  国内外碳化硅陶瓷材料研究与应用进展. 李辰冉;谢志鹏;康国兴;安迪;魏红康;赵林 2022-04-24. 分享. 摘要: 碳化硅陶瓷材料具有良好的耐磨性、导热性、抗氧化性及优异的高温力学性能,被广泛应用于能源环保、化工机械、半导体、国防军工等领域。. 然而,由

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    无压烧结碳化硅辊棒--1900℃,0金属杂质_陶瓷

    2021年1月30日  4)碳化硅托盘:金属杂质 少,耐浓硫酸、浓硝酸腐蚀; 5)碳化硅悬臂桨:金属杂质少,耐浓硫酸、浓硝酸腐蚀; 6)碳化硅气浮运动平台:碳化硅气浮运动平台硬度仅次于金刚石,长期使用不变形,热膨胀系数4.0,耐磨损,长期使用精度高 ...

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    碳化硅单晶生长第一步,要纯!_合成_过程_杂质

    2024年3月6日  碳化硅单晶生长第一步,要纯! 中国粉体网讯 近年来,制备高纯SiC粉料逐渐成为SiC单晶生长领域的研究热点。. 生长SiC单晶用的SiC粉体纯度要求很高,杂质含量应至少低于0.001%,此外,碳化硅粉料的各项参数都直接影响单晶生长的质量以及电学性能。. 碳

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    碳化硅,第三代半导体时代的中国机会 - 国家自然科学基金 ...

    2021年7月21日  碳化硅,第三代半导体时代的中国机会. 5G通信、电动汽车等新兴产业对碳化硅材料将产生巨大需求,大力发展碳化硅产业,可引领带动原材料与设备两个千亿级产业,助力我国加快向高端材料、高端设备制造业转型发展的步伐。. 今年发布的“‘十四五’规划和 ...

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    碳化硅分解温度_百度文库

    碳化硅的分解温度还受到杂质 含量的影响。杂质是指晶格中的不纯物质,碳化硅中常见的杂质有氮、氧、铝等。这些杂质的存在会改变碳化硅的晶体结构和化学性质,从而影响其分解温度。研究表明,杂质含量越高,碳化硅的分解温度越低。因此,降低 ...

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    碳化硅 ~ 制备难点 - 知乎

    2023年3月13日  晶体制备. 由于物理的特性,碳化硅材料拥有很高的硬度,目前仅次于金刚石,因此在生产上势必要在高温与高压的条件下才能生产。. 以PVT法为例,碳化硅晶体制备面临以下困难:. 温场控制困难、生产速度缓慢:以目前的主流制备方法物理气相传输

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